国家知识产权局信息显示，西安天隆科技有限公司申请一项名为“一种光学检测仪、单边光学校准方法和双边光学校准方法”的专利，公开号CN122545449A，申请日期为2026年5月。专利摘要显示，本发明公开了一种光学检测仪、单边光学校准方法和双边光学校准方法，涉及仪器检测领域，包括检测机架、光学扫描模块、扫描驱动模块和控制模块，所述扫描驱动模块能够驱动光学扫描模块沿光学扫描路线移动，所述光学扫描路线上间隔排布有多个光学扫描孔，所述光学扫描模块能够以设定的采集频率进行扫描，在所述光学扫描路线的端部设置有校准孔。本发明提供的光学检测仪、单边光学校准方法和双边光学校准方法，通过设置校准孔与光学扫描模块配合，结合荧光值的比较和最大值的确定，实现对光学扫描孔的位置校准，确保数据采集准确无误；采用初校准步骤和
